セミナー情報

原子力機構・兵県大合同物性コロキウム(第77回)

日時: 平成23年10月28日(金) 16:00〜
Date and time: 28th Oct. (Fri.) 16:00〜
場所: スプリング8放射光物性研究棟4階応接室
Place: SPring-8, JAEA, Meeting room 4F
題名: 最尤推定による粉末X線構造解析
Title: Powder X-ray structure analysis by a maximum likelihood method
講演者: 井田隆 氏(名古屋工業大学)
Speaker: Prof. Takashi Ida (Nagoya Institute of Technology)
Abstract:

結晶性粉末試料を用いた結晶構造解析法として,測定された回折強度データを最小二乗法により解析するリートベルト法 (Rietveld, 1969) が用いられてきたが,この方法では観測される回折強度に寄与する結晶粒の数が有限であることに基づく統計的な変動(粒子統計)が無視されており,多くの場合に論理的な正当化が困難であった。 この問題を解決するために,最小二乗法の上位概念にあたる最尤推定法を適用し,観測された強度データから粒子統計を含む統計誤差モデルを最適化する新しい構造解析法を開発した。 典型的な条件で測定された粉末X線回折強度データに対して新しい構造解析法を適用して推定された結晶構造は,リートベルト解析の結果から有意な差が認められ,単結晶構造解析の結果に近くなる傾向が認められた。

The Rietveld method (Rietveld, 1969), which is an application of a least-squares method to structure refinement from powder diffraction data, is widely used for structure analysis from crystalline powder sample. However, it is often difficult to justify the application of this method, because the effects of particle statistical errors cannot be taken into considerration. The author has developed a new analytical method based on the maximum likelihood method, incorporating refinement of arbitrary error models, which can include the effects of particle statistical errors. It has been found that the crystal structures refined by the new method become closer to the results of single crystal structure analyses rather than those obtained by the Rietveld method.